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测试设备校准宿迁-审厂
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-18 04:40:47
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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
存储深度(RecordLength)也称记录长度,它表示示波器可以保存的采样点的个数。存储深度如果为“20000个采样点”则一般在技术指标中会写作“2Mpts”(这里的pts可以理解为“points”的缩写)或2MS(这里的S也可以理解为“samples”的意思)。存储深度表现在物理介质上其实是某种存储器的容量,存储器容量的大小也就是存储深度。示波器采集的样点存入到存储器里面,当存储器保存满了,老的采样点会自动溢出,示波器不断采样得到的新的采样点又会填充进来,就这样周而复始,直到示波器被触发信号“叫停”,每“叫停”一次,示波器就将存储器中保存的这些采样点“搬移”到示波器的屏幕上进行显示,这两次“搬移”之间等待的时间被称为“死区时间”。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
存储深度(RecordLength)也称记录长度,它表示示波器可以保存的采样点的个数。存储深度如果为“20000个采样点”则一般在技术指标中会写作“2Mpts”(这里的pts可以理解为“points”的缩写)或2MS(这里的S也可以理解为“samples”的意思)。存储深度表现在物理介质上其实是某种存储器的容量,存储器容量的大小也就是存储深度。示波器采集的样点存入到存储器里面,当存储器保存满了,老的采样点会自动溢出,示波器不断采样得到的新的采样点又会填充进来,就这样周而复始,直到示波器被触发信号“叫停”,每“叫停”一次,示波器就将存储器中保存的这些采样点“搬移”到示波器的屏幕上进行显示,这两次“搬移”之间等待的时间被称为“死区时间”。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
测试设备校准宿迁-审厂
晶体管的噪声晶体管的噪声主要有热噪声、散粒噪声、闪烁噪声。热噪声是由于载流子不规则的热运动通过BJT内3个区的体电阻及相应的引线电阻时而产生。其中rbb所产生的噪声是主要的。通常所说的BJT中的电流,只是一个平均值。实际上通过发射结注入到基区的载流子数目,在各个瞬时都不相同,因而发射极电流或集电极电流都有无规则的波动,会产生散粒噪声。由于半导体材料及工艺水平使得晶体管表面清洁不好而引起的噪声称为闪烁噪声。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
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晶体管的噪声晶体管的噪声主要有热噪声、散粒噪声、闪烁噪声。热噪声是由于载流子不规则的热运动通过BJT内3个区的体电阻及相应的引线电阻时而产生。其中rbb所产生的噪声是主要的。通常所说的BJT中的电流,只是一个平均值。实际上通过发射结注入到基区的载流子数目,在各个瞬时都不相同,因而发射极电流或集电极电流都有无规则的波动,会产生散粒噪声。由于半导体材料及工艺水平使得晶体管表面清洁不好而引起的噪声称为闪烁噪声。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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单芯片雷达收发器的简图雷达传感器的应用迄今为止,单芯片雷达的应用领域是汽车安全。雷达成为大多数汽车中先进驾驶辅助系统(advanceddriver-assistancesystems,ADAS)的核心。自适应巡航控制、自动刹车、后备箱物体检测、盲点检测、变道辅助、来车告系统都采用了雷达技术。目标是减少驾驶员失误,从而减少车祸次数和伤亡人数。目前为止,上述目标正在实现。事实上,这些新的子系统非常有效,因此正在强制所有汽车先进驾驶辅助系统。
单芯片雷达收发器的简图雷达传感器的应用迄今为止,单芯片雷达的应用领域是汽车安全。雷达成为大多数汽车中先进驾驶辅助系统(advanceddriver-assistancesystems,ADAS)的核心。自适应巡航控制、自动刹车、后备箱物体检测、盲点检测、变道辅助、来车告系统都采用了雷达技术。目标是减少驾驶员失误,从而减少车祸次数和伤亡人数。目前为止,上述目标正在实现。事实上,这些新的子系统非常有效,因此正在强制所有汽车先进驾驶辅助系统。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
测试设备校准宿迁-审厂晶闸管又叫可控硅,是一种在晶体管基础上发展起来的大功率半导体器件,主要并广泛应用于整流、逆变、调压及关等方面,对可控硅性能进行检测,对于电控系统的日常维护、保证正常运转具有十分重要的意义。可控硅分单向可控硅和双向可控硅两种,都是三个电极。单向可控硅有阴极(K)、阳极(A)、控制极(G)。双向可控硅等效于两只单项可控硅反向并联而成,即其中一只单向硅阳极与另一只阴极相边连,其引出端称T2极,其中一只单向硅阴极与另一只阳极相连,其引出端称T2极,剩下则为控制极。
测试设备校准宿迁-审厂晶闸管又叫可控硅,是一种在晶体管基础上发展起来的大功率半导体器件,主要并广泛应用于整流、逆变、调压及关等方面,对可控硅性能进行检测,对于电控系统的日常维护、保证正常运转具有十分重要的意义。可控硅分单向可控硅和双向可控硅两种,都是三个电极。单向可控硅有阴极(K)、阳极(A)、控制极(G)。双向可控硅等效于两只单项可控硅反向并联而成,即其中一只单向硅阳极与另一只阴极相边连,其引出端称T2极,其中一只单向硅阴极与另一只阳极相连,其引出端称T2极,剩下则为控制极。
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